保護回路の動作特性をシミュレーションする TLP試験器、誤作動試験器、
静電気が見える静電気可視化モニターも取り揃えています。

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• 印加パルス幅100ns/200nsのノーマル試験と1nsまで小さくした VFTLPの試験モードを取り揃えています。ESD耐性でのHBM/CDM試験の検証に有効です。 デバイスピンへの入射波、デバイスピンからの反射波を標準に装備されたオシロスコープで確認できます。 また、セミオートプローバー等と接続して、TLP試験を自動化することができます。Wafer上の印加ピンやチップ間の自動シフト、自動測定ができるので、試験効率が大きく向上します。 従来のTLPではカバーできなかった、高電圧･大電流の特性を測定できる装置もございます。　

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• I/O端子に矩形波を入れることで 正方向、負方向のどちらでも個別評価できます。

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• エリアセンサを組み込んだポータブルタイプ静電気非接触可視化システム。肉眼では確認できない静電気帯電量をリアルタイムでモニタリングできます。